產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
實現(xiàn)高照度、高均勻性和小型外殼的偽同軸落射照明
可以使用半鏡在與相機軸相同的軸上照射它。
通過改進所使用的半鏡，分辨率明顯高于IFVA系列。
由于可以使用鏡面反射進行檢查，因此對于檢查表面上的細小劃痕、印刷和字符檢查非常有效。
它可用于廣泛的應用，例如電路板圖案檢查和連接器引腳間距測量。
詳情介紹：
